技術規(guī)格：
- 這些測試對象旨在快速定量評估圖像質量。 結果可以繪制在閾值檢測指數(shù)曲線上。
- TO 20 低對比度細節(jié)模體用于快速定量檢測影像成像質量，可以用于X射線放射影像系統(tǒng)和CR系統(tǒng)。
- 144 個細節(jié)（12×12對比細節(jié)）
- 尺寸范圍11mm至0.25mm
- 對比度范圍0.0014至0.924 （在75kV，1.5mm Cu過濾條件下）
一個常規(guī)的測試對象，旨在快速和容易地使用，以提供一個持續(xù)的檢查成像性能的射線攝影。
技術規(guī)格：
